1.磁性法
當測頭與覆層接觸時，測頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度。
2.渦流法
利用高頻交變電流線圈中產(chǎn)生一磁場，當測頭與金屬接觸時，金屬基體上會產(chǎn)生渦流，并對測頭具有反饋作用，通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度。